O Diretor-Vice-Presidente Prof. Dr. Max José de Araújo Faria Junior, e o Assessor Jurídico Dr. Ernani Santiago, representaram a FUNDUNESP em um evento promovido pelo Instituto de Pesos e Medidas de São Paulo (Ipem-SP), em comemoração ao Dia Nacional do Metrologista, na última quarta-feira (26/06), a convite do Engenheiro Marcos Heleno Guerson de Oliveira Junior, Superintendente da Autarquia.
O Seminário “A Metrologia como ferramenta de contribuição para a competitividade da indústria”, realizado no Auditório Antonio Cortazzo, na sede do Ipem-SP, contou com a presença do secretário da Justiça e Cidadania (SJC) em exercício, Sr. Raul Christiano e teve a participação de dirigentes de várias associações de classe da indústria e de técnicos e especialistas em metrologia.
O Dia Nacional do Metrologista, celebrada em 26 de junho, é alusiva à data de promulgação da Lei nº. 1175, em 1862, pelo Imperador Dom Pedro II, pela qual o Brasil adotou o Sistema Métrico Decimal, substituído, em 1960, pelo Sistema Internacional de Unidades - SI.
O Diretor-Vice-Presidente da FUNDUNESP, Prof. Dr. Max José de Araújo Faria Junior elogiou a qualidade das palestras, os debates e a importância do tema para a indústria nacional, dado que a metrologia é o alicerce para estabelecimento de políticas de qualidade e de conformidade, destacando a parceria entre o Ipem-SP e a FUNDUNESP. "O Ipem-SP é, agora, um ICT e passa atuar mais fortemente na metrologia científica, contando com laboratórios de excelência, com grande capacidade para interagir com universidades e instituições de pesquisa. É um parceiro importante e a expectativa é que as tratativas para que a FUNDUNESP se torne sua fundação de apoio avancem. O evento, com palestrantes muito gabaritados, expôs, com muita clareza, a importância da metrologia como ferramenta essencial para a indústria competitiva”, comentou o diretor.
A FUNDUNESP agradece o convite e parabeniza todos os profissionais da Metrologia pela data comemorativa.
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Foto: Reprodução / Ipem-SP